新一代 Orage™ Ga FIB镜筒，适用于各类具有挑战性的纳米加工任务

TESCAN S8000配置了新的BrightBeam™镜筒，实现了无磁场分辨成像，可以较大话的实现各种分析，

包括磁性样品的分析。新型镜筒中的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率，特别适合对电子束敏感样品

和不导电样品的分析。创新的Orage™ Ga FIB镜筒配有离子枪和离子光学镜筒，使得TESCAN S8000G

成为了世界顶级的样品制备和纳米图形成型的仪器。

S8000G束流可达100nA，具有超快速的加工能力，新颖的SmartMill高速切割功能，使得加工效率提升一倍。
S8000G离子能量可达500eV，拥有更优异的低压样品制备能力，可以快速制备无损超薄TEM样品。
可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件，并实现与TOF-SIMS、Raman一体化。



新一代OptiGIS™气体注入系统

S8000可配置新的多种探测器，包括透镜内Axial detector 以及 Multidetector，可选择不同角度和不同

能量来收集信号，体现更多种类的信息，同时获得更好的表面灵敏度和对比度。S8000G有两种气体注入

系统可供选择，标准的5针-GIS和新一代OptiGIS单针-GIS，单针的OptiGIS支持通过更换气罐来更换化

学气体，避免了以往多针气体注入系统样品仓内占用空间大的问题。

两种气体注入系统均可以选择多种沉积气体，其中W、Pt、C等用于导电材料沉积，SiOx用于绝缘材料沉积，

XeF2、H2O等用于增强刻蚀，或其它定制气体。


新一代Essence操作软件，更简单、有效的操作平台

S8000可配置新的多种探测器新操作软件简化了用户界面，能快速访问各主要功能，

减少了繁琐的下单菜单操作，并优化了操作流程向导，易于学习，兼容多用户需求，

可根据工作需要定制操作界面。

集成多项创新性设计，拓展新应用领域的利器

S8000可配置新的多种探测器S8000G是TESCAN新一代FIB-SEM的成员，集成了BrightBeam™ SEM镜筒、

Orage™ GaFIB镜筒、OptiGIS气体注入系统等多项创新设计，在高分辨能力、原位应用扩展能力和分析扩展能力方面达到了业内顶级水平，

此外新一代操作流程和软件也给使用者带来更舒服的体验。