X射线衍射仪 XRD-7000可在大气中无损分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。 
可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/Ｘ射线结构解析等各种分析。

配备具有0.0001°zui小步进的高精度样品水平型测角仪。根据分析目的，可以选择适合分析大型样品的Ｌ型（zui大350mmφ样品）和通用的S型。

XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪，能够测定超大型样品。
· 不但可进行定性/定量等基本分析，还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件，还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。

利用新开发的大型R-θ样品台，可以进行zui大350mmφ样品全表面的自动应力成图测定。