产品特性：布鲁克电子显微镜分析仪 QUANTAX FlatQUADX射线检测的效率高,SEM 中的纳米级分辨率,固体角代表探测器采集样品产生的 X 射线的几何收集效率,比传统的 EDS 探测器快4倍.
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QUANTAX FlatQUAD 是基于革命性 XFlash® FlatQUAD 的 EDS 分析系统。QUANTAX FlatQUAD 与 ESPRIT 分析软件套件相结合，即使是对于困难的EDS样品，可以提供的面分析性能。
QUANTAX FlatQUAD 与 ESPRIT 软件套件一起，提供理想的仪器软硬件，用于分析低电流才稳定的敏感样品或很粗糙的样品。
XFlash® FlatQUAD还可以将您的 SEM 或 FIB 转换为低电压的 STEM，以更及时、更经济方式实现高的空间和光谱分辨率。
如果要从电子透明样品中获得更多信息，比如晶体学信息，可以请将 XFlash® FlatQUAD与布鲁克 EBSD 改装的 TKD 探测器结合使用。
为用户提供详尽的仪器用途、重要参数的说明，还为客户提供不同品牌产品间的性能比较，给用户最中肯的购买建议。
安装验收合格后整机保修壹年。在质保期内，我们负责为用户的设备提供免费维护、保养和免费更换损坏的零部件；
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