JEOL JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜

产品特性：JEOL JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜配备了高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案.

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JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。
镜筒内置式Ω型能量过滤器(omega 过滤器)
镜筒内置式Ω型能量过滤器内置于成像透镜系统，能容易地获得能量过滤像和能量损失谱，同时还能获得与传统电子显微镜同等的放大倍率范围。此外、Ω型过滤器的电子光学系统在设计上很大程度地减少了图像畸变，出厂前还将剩余一点的畸变做了的修正。JEM-3200FS还采用了高灵敏度的相机系统及图像处理系统（选配件），可以构建元素面分布系统及能量损失谱系统。
新型控制系统
电子枪、电子光学系统、测角台、抽真空系统等电子显微镜基本功能的系统化，实现了高稳定、高性能的控制系统。图像画面和用户界面采用Windows ®*1，可以进行编程操作和附件的集中控制。
新型测角台
系统化的新型测角台内置压电陶瓷驱动机构，使高倍率下的样品移动更加。*2.
*1 : 注意事项：Windows是微软公司在美国和其他国家的注册商标。
*2 : 仅有压电元件包括在基本单元中，压电元件的电源为选配件。