电子分析天平测定欲知的是物体的『质量』，但是质量无法直接测知，电子天平测知的是『重量（地球对物体的引力=重力）』，然后再由重量换算成质量进行显示。质量与重量的比例关系是取决于测定场所的重力加速度。将已知道准确质量的校准砝码放到电子天平上，这时测知的重力相当于它的质量，若作为重力与质量的比例关系式进行存储，则在以后的每次测定物体时可由这个重量计算质量并进行显示。这个作业被认作为校准（Span calibration）。
灵敏度再校准必要性
例如：
京都和东京的重力加速度分别为979.70775cm/S2和979.76319cm/s2，相差为0.0057%程度，在京都执行校准（Span calibration）后的电子天平移动到东京时，若测定100.0000g整的质量的物体，则成为100.0057g，产生两位的误差，所以使用前请务必在设置场所进行校准（Span calibration）。
另外：
电子分析天平，在重量检测的结构上使用磁石和线圈，磁石，即使经过校正，温度每变化1℃也会产生达±2ppm（百万分之2）的灵敏度变化。这意味着，若测定100克的物体时，就产生相当于±0.2mg的误差。若天平执行校准后温度变化5℃时，100.0000g的物体，在+侧较大可达100.0010g。为此，请在温度变化时为测定准确起见，务必进行校准。
提示：
执行校准时，使天平处于十分稳定的状态。为此，岛津万分之一分析天平要求待机通电1小时以上，待天平稳定后可进行校准操作。使用十万分之一（较小显示0.01mg）时，则通电4待机小时以上。灵敏度校准在正确安装和充分预热后再进行。另外，执行校准时在称量盘上不能放测定物，在人出入少，没有风和振动的状态下执行校准操作（Span calibration）。
灵敏度再校准操作
具有内校准功能的电子分析天平，天平内藏电机驱动校准砝码，不必保管外部校准用砝码和自行装取砝码，只需简单的按键操作即可进行校准。如岛津AUW-D/AUW/AUX系列天平，空载状态下，按天平上的CAL键，当天平显示iCAL时，按O/T键执行校准。
伴随机内砝码的电机升降，天平依次显示CAL2→CAL1→CAL0，此过程为天平自动进行校准，无需再进行其他操作。
当屏幕显示CAL END，随后会自动跳转至称量界面，至此内砝码校准执行完毕，可以开始称量实验。
对于无内校准功能的电子分析天平，需使用外部的校准砝码进行天平校准工作。
为使电子分析天平准确地进行质量测定，在以下情况下需要进行校准（Span calibration）。
■ 变更设置场所时（即使在同一房间内移动也须进行校准） ；
■ 室温变化时 ；
■在每次使用前，先执行校准（Span calibration）。
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